发明名称 Cryogenic and high temperature type forming property tester
摘要 <p>또한 이 발명에서는 고온 시험시에는 상하부 다이에 히터를 감고 열전대를 삽입하여 온도제어기로 제어하며 성형 시험을 하는 것을 특징으로 한다.</p>
申请公布号 KR101070765(B1) 申请公布日期 2011.10.07
申请号 KR20080130850 申请日期 2008.12.22
申请人 发明人
分类号 G01N1/42;G01N25/00 主分类号 G01N1/42
代理机构 代理人
主权项
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