发明名称 自动测试装置校准因子的递增产生
摘要 本发明公开了用于产生自动测试装置的校准数据的方法。在一个实施例中,接收到对自动测试装置(ATE)执行校准过程的请求。该请求与校准参数集合相关联。在接收到该请求之后,对应于校准参数集合的校准数据的一个或多个签名被导出,并且判断对应于所述一个或多个签名的校准数据是否已经产生。随后,产生校准数据的递增集合,其中所产生的校准数据i)对应于所述一个或多个签名,但是ii)还未产生。在另一实施例中,接收到对ATE执行校准过程的请求,并且该请求与指定的测试设置相关联。然后产生对应于所述指定的测试设置的校准数据的递增集合。
申请公布号 CN1804648B 申请公布日期 2010.06.23
申请号 CN200610001187.2 申请日期 2006.01.13
申请人 惠瑞捷(新加坡)私人有限公司 发明人 周正容;麦克·米欧赫姆
分类号 G01R31/00(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I 主分类号 G01R31/00(2006.01)I
代理机构 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 代理人 王怡
主权项 一种用于产生自动测试装置的校准数据的方法,包括:接收对所述自动测试装置执行校准过程的请求,所述请求与校准参数集合相关联;导出用于与所述校准参数集合相对应的校准数据的一个或多个签名;判断对应于所述一个或多个签名的校准数据是否已经产生;以及产生以下校准数据的递增集合,所述校准数据的递增集合对应于所述一个或多个签名,但是还未产生。
地址 新加坡新加坡市