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Vorrichtung zur Bestimmung von Oberflächeneigenschaften mit wenigstens einer ersten Strahlungseinrichtung mit wenigstens einer ersten Strahlungsquelle, welche eine vorgegebene Strahlung auf eine Messfläche richtet; wenigstens einer ersten Strahlungsdetektoreinrichtung, welche wenigstens einen Teil der von der Messfläche reflektierten und/oder gestreuten Strahlung aufnimmt und wenigstens ein Messsignal ausgibt, das für reflektierte und/oder gestreute Strahlung charakteristisch ist, wobei wenigstens eine zweite Strahlungseinrichtung vorgesehen ist, welche wenigstens teilweise gerichtete Strahlung unter einem vorgegebenen Winkel auf die Messfläche richtet, sowie wenigstens eine zweite Strahlungsdetektoreinrichtung mit einer vorgegebenen Strahlungsdetektorfläche, welche die von der Messfläche reflektierte von der zweiten Strahlungseinrichtung stammende Strahlung wenigstens teilweise aufnimmt und in ihrer Position auf der Detektorfläche bestimmt.
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