| 主权项 |
1.一种研磨装置,该装置包括搬送一工作件之一搬 送滚轮、设置于该搬送滚轮间之一抛光研磨滚轮 、与该抛光研磨滚轮之一支撑滚轮,其特征在于该 搬送滚轮之该工作件搬送方向前方侧设置有与该 搬送滚轮之一部分重叠之一张力调节滚轮。2.如 申请专利范围第1项所述之研磨装置,其中该抛光 研磨滚轮之一旋转轴具有能够进行升降操作之结 构。3.如申请专利范围第1项或申请专利范围第2项 所述之研磨装置,其中该装置更包括藉由该支撑滚 轮之旋转以使该抛光研磨滚轮连续旋转,而检测该 抛光研磨滚轮之原点之一原点检测手段。4.如申 请专利范围第1项或申请专利范围第2项所述之研 磨装置,其中该抛光研磨滚轮之该旋转轴是由具有 外径尺寸对应该抛光研磨构件之内径尺寸之一中 空构件所构成。5.如申请专利范围第3项所述之研 磨装置,其中该抛光研磨滚轮之该旋转轴是由具有 外径尺寸对应该抛光研磨构件之内径尺寸之一中 空构件所构成。图式简单说明: 第1图所绘示为本发明较佳实施例之研磨装置之概 略要部放大正面图。 第2图所绘示为本发明较佳实施例之研磨装置之具 体的正面图。 第3图所绘示为本发明较佳实施例之研磨装置之压 迫滚轮部之部分剖面平面图。 第4图所绘示为本发明较佳实施例之研磨装置之搬 送滚轮部之部分剖面平面图。 第5图所绘示为本发明较佳实施例之研磨装置之旋 转轴之搬送方向与直角方向的放大纵剖面图。 第6A图所绘示为本发明较佳实施例之研磨装置之 原点检测手段之放大平面图。 第6B图所绘示为本发明较佳实施例之研磨装置之 原点检测手段之放大左侧面图。 第6C图所绘示为本发明较佳实施例之研磨装置之 原点检测手段之放大正面图。 第7A图所绘示为习知之研磨装置之概略平面图。 第7B图所绘示为习知之研磨装置之概略透视正面 图。 第8图所绘示为习知之研磨装置之概略要部放大正 面图。 第9图所绘示为习知之研磨装置之装着抛光研磨构 件之旋转轴的放大斜视图。 第10图所绘示为习知之研磨装置之抛光研磨构件 装着部之放大纵剖面图。 |
