发明名称 印刷电路板之检测装置及印刷电路板之检测装置的组装构件
摘要 本发明系关于提供一种零件数量少,构件成本低,轻量且精度高的印刷电路基板之检测装置者。本发明之构成为,简单来说,系具备有:其两端具有针部,且外周设有突缘部之探针,具有其径大于前述探针之径,且小于前述突缘部之径之使探针贯穿的贯穿孔的探针保持构件,以及其平行于前述探针保持构件,对探针保持构件配置在相反于被检测电路板之一方,且在前述探针之针部之一方所挡接的位置具备有导电性之电路图案之界面构件;探针之前述突缘部系配置在前述界面构件与前述探针保持构件之间,前述探针之针部中之至少有一方为可动,前述探针之针部之另一方系挡接于被检测电路板,前述探针系保持成为可沿着前述探针保持构件之贯穿孔而滑动自如为其特征者。
申请公布号 TW380205 申请公布日期 2000.01.21
申请号 TW087119816 申请日期 1998.11.30
申请人 ICT股份有限公司 发明人 加藤正敏
分类号 G01R1/067 主分类号 G01R1/067
代理机构 代理人 林志刚 台北巿南京东路二段一二五号七楼
主权项 1.一种印刷电路基板之检测装置,其特征为:具备有:其两端具有针部,且外周设有突缘部之探针,具有其径大于前述探针之径,且小于前述突缘部之径之使探针贯穿的贯穿孔之探针保持构件,及其平行于前述探针保持构件,对探针保持构件配置在相反于被检测电路基板之一方,且在前述探针之针部之一方所挡接的位置具有导电性之电路图案之界面构件;探针之前述突缘部系配置在前述界面构件与前述探针保持构件之间,前述探针之针部中之至少有一方为可动,前述探针之针部之另一方系挡接于被检测电路基板,前述探针系保持成为可沿着前述探针保持构件之贯穿孔而滑动自如者。2.如申请专利范围第1项之印刷电路基板之检测装置,其中前述探针保持构件系由平行配置的复数构件所构成者。3.如申请专利范围第1项或第2项之印刷电路基板之检测装置,其中在前述被检测电路板与前述探针保持构件之间,设有支持被检测电路板之构件成为,对前述探针保持构件具有弹性的状态者。4.如申请专利范围第3项之印刷电路基板之检测装置,其中在前述探针保持构件与支持前述被检测电路板之构件之间,设有检测出在前述被检测电路板插装有错误零件的装置者。5.一种印刷电路基板之检测装置的组装构件,其特征为,具备有:其两端具有针部,且外周设有突缘部之探针,具有其径大于前述探针之径,且小于前述突缘部之径之使探针贯穿的贯穿孔之探针保持构件,及其平行于前述探针保持构件,对探针保持构件配置在相反于被检测电路基板之一方,且在前述探针之针部之一方所挡接的位置具有导电性之电路图案之界面构件;探针之前述突缘部系配置在前述界面构件与前述探针保持构件之间,前述探针之针部中之至少有一方为可动,前述探针之针部之另一方系挡接于被检测电路基板,前述探针系保持成为可沿着前述探针保持构件之贯穿孔而滑动自如者。图式简单说明:第一图系显示本发明之印刷电路基板之检测装置所使用之探针之概略剖面图。第二图系显示检测被检测电路基板前之检测装置之状态之概略剖面图。第三图系显示正在检测被检测电路基板时之检测装置状态之概略剖面图。第四图系显示以往之印刷电路基板之检测装置之根略剖面图。
地址 日本