发明名称 IC-Testgerät
摘要
申请公布号 DE19782246(T1) 申请公布日期 2000.01.05
申请号 DE19971082246T 申请日期 1997.11.20
申请人 ADVANTEST CORP., TOKIO/TOKYO 发明人 HASHIMOTO, YOSHIHIRO
分类号 G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/26 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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