发明名称 CIRCUIT DE GENERATION D'UNE HAUTE TENSION DE PROGRAMMATION OU D'EFFACEMENT D'UNE MEMOIRE
摘要 <P>L'invention concerne un circuit de génération d'une haute tension en rampe pour l'alimentation en tension d'une charge capacitive, notamment une haute tension de programmation ou d'effacement d'au moins une cellule mémoire d'une mémoire non volatile comportant des transistors à grille flottante comme éléments de mémorisation, comprenant un transistor de charge de type P (2) relié par sa source à la sortie d'un circuit élévateur de tension délivrant une haute tension (HIV) continue et constante, par son drain à la charge (5), la haute tension en rampe (Vpp) étant disponible sur ce drain (S), et par sa grille de commande à un circuit bouclé de régulation du courant de charge réalisant l'asservissement de la pente de la haute tension en rampe (Vpp).Avantage : génération d'une haute tension en rampe, dont la pente est inférieure à une pente critique et la valeur maximum élevée.</P>
申请公布号 FR2768274(A1) 申请公布日期 1999.03.12
申请号 FR19970011218 申请日期 1997.09.10
申请人 SGS THOMSON MICROELECTRONICS SA 发明人 RAVAZZINI ROBERTO
分类号 G11C16/12;H03K17/16;(IPC1-7):H02M3/158;G11C16/06 主分类号 G11C16/12
代理机构 代理人
主权项
地址