CIRCUIT AND PROCESS FOR MEASURING A VALUE AFFECTING THE CAPACITANCE-VOLTAGE CHARACTERISTIC OF A CAPACITIVE COMPONENT

摘要

Bei einer Schaltung und einem Verfahren zum Messen einer die Kapazitäts-Spannungs-Charakteristik eines kapazitiven Elementes beeinflussenden Größe wird die Meßgenauigkeit und das Signal-Störspannungs-Verhältnis dadurch verbessert, daß die Größe aus der Fläche unter der Kurve der Kapazitäts-Spannungs-Charakteristik ermittelt wird.