发明名称 Erfassung abhängiger Ausfälle
摘要 Es sind Vorrichtungen und Verfahren vorgesehen, die ein Erfassen eines Störparameters erleichtern, der außerhalb eines vorgegebenen Bereichs liegt. Ein solcher Störparameter kann zum Beispiel abhängige Ausfälle in redundanten Schaltungen verursachen, zum Beispiel redundanten Schaltungen, die auf demselben Substrat angeordnet sind.
申请公布号 DE112014006383(T5) 申请公布日期 2016.11.24
申请号 DE20141106383T 申请日期 2014.02.19
申请人 Infineon Technologies AG 发明人 Herfurth, Kirk;Zettler, Thomas
分类号 G01R31/28;G05B9/03 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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