| 发明名称 | 基于光干涉的位移测量方法 | ||
| 摘要 | 一种基于光干涉的位移测量方法，涉及一种位移测量方法，该方法是利用光学谐振腔对波长选择性透过的特性，通过对透射光波长的分析得到腔长，当腔长变化时，透射波长随之产生变化，光电接收装置检测并分析透射波长得出腔长变化量，通过腔长变化量计算出被测物位移。本发明可实现对位移的精密测量，具有测量精度高、量程大、可从nm级跨越至m级、可大大提高系统的响应时间等特点，易于推广使用。 | ||
| 申请公布号 | CN105674889A | 申请公布日期 | 2016.06.15 |
| 申请号 | CN201610053503.4 | 申请日期 | 2016.01.27 |
| 申请人 | 广西科技大学鹿山学院 | 发明人 | 林澎;孙荣敏;龙盛保;杨灵敏;张树林;丁伟;张宏献;许孝忠;钟礼君;耿雪霄 |
| 分类号 | G01B11/02(2006.01)I | 主分类号 | G01B11/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 柳州市荣久专利商标事务所(普通合伙) 45113 | 代理人 | 周小芹 |
| 主权项 | 一种基于光干涉的位移测量方法，其特征在于：该方法是利用光学谐振腔对波长选择性透过的特性，通过对透射波长的分析得到腔长，当腔长变化时，透射波长随之产生变化，光电接收装置检测并分析透射波长得出腔长变化量，通过腔长变化量计算出被测物位移。 | ||
| 地址 | 545616 广西壮族自治区柳州市鱼峰区新柳大道99号 | ||