| 发明名称 | 大口径KDP晶体元件表面微缺陷快速搜寻与微铣削修复装置 | ||
| 摘要 | 大口径KDP晶体元件表面微缺陷快速搜寻与微铣削修复装置，涉及一种大口径KDP晶体元件表面微缺陷搜寻与修复装置。以解决目前无对大口径KDP晶体元件表面的微缺陷进行快速搜寻及微铣削修复的装置问题。底部大平板上固定放置有整体平台装配总成，底部平台装配总成固定在整体平台装配总成上，晶体移动平台装配体固定在整体平台装配总成上，晶体显微镜移动平台固定在整体平台装配总成上；第一、二拖链通过导轨拖链连接块与晶体移动平台装配体连接，晶体显微镜移动平台支架的下部与整体平台装配总成的上端面连接，晶体显微镜移动平台安装于晶体显微镜移动平台支架上。本发明用于大口径KDP晶体元件表面微缺陷快速搜寻与微铣削修复。 | ||
| 申请公布号 | CN103692561B | 申请公布日期 | 2015.12.02 |
| 申请号 | CN201310744691.1 | 申请日期 | 2013.12.30 |
| 申请人 | 哈尔滨工业大学 | 发明人 | 陈明君;肖勇;蒋琳曦;郭燕秋;廖然;梁迎春 |
| 分类号 | B28D5/00(2006.01)I;B28D7/04(2006.01)I | 主分类号 | B28D5/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人 | 高媛 |
| 主权项 | 一种大口径KDP晶体元件表面微缺陷快速搜寻与微铣削修复装置，其特征在于：它包括晶体移动平台装配体(101)、整体平台装配总成(102)、底部平台装配总成(103)、晶体显微镜移动平台(104)、底部大平板(116)、第一拖链(117)、第二拖链(118)、导轨拖链连接块(119)、第二拖链限位块(120)及晶体显微镜移动平台支架(121)；所述底部大平板(116)水平设置，底部大平板(116)上固定放置有整体平台装配总成(102)，底部平台装配总成(103)固定在整体平台装配总成(102)上，晶体移动平台装配体(101)固定在整体平台装配总成(102)上表面，晶体显微镜移动平台(104)的下端固定在整体平台装配总成(102)的上端面；所述第一拖链(117)和第二拖链(118)各通过一个导轨拖链连接块(119)与晶体移动平台装配体(101)连接，第一拖链(117)和第二拖链(118)水平垂直设置，第二拖链限位块(120)固定在晶体移动平台装配体(101)上且位于第二拖链(118)的外侧面处，晶体显微镜移动平台支架(121)的下部与整体平台装配总成(102)的上端面连接，晶体显微镜移动平台(104)安装于晶体显微镜移动平台支架(121)上。 | ||
| 地址 | 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号 | ||