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一种电路板测试方法，包括以下步骤：测量电路板中各个导电路径之标准电阻值；于电路板中确定复数待测量导电路径；测量复数该种电路板中每个待测量导电路径之电阻值，并记录阻值变化幅度超出预定范围之导电路径及其电阻值变化；对阻值变化幅度超出预定范围之导电路径进行切片分析以确认导电路径中是否存在不良；分析不良导电路径之电阻值变化与标准电阻值，得出不良引起之导电路径电阻值变化范围相对于其标准电阻值之变化规律；测量待测量电路板中各导电路径之电阻值，根据每个导电路径电阻值变化是否符合该变化规律以确认该待测电路板中各导电路径是否存在不良。如申请专利范围第1项所述之电路板测试方法，其中，将标准电阻值区分为复数电阻值区间，并得出每个电阻值区间内导电路径不良造成之电阻值相对标准电阻之变化与标准电阻值之间变化规律，从而可根据不同之标准电阻值区间之阻值变化规律确认待测电路板是否存在不良。如申请专利范围第2项所述之电路板测试方法，其中，该复数电阻值区间为0.01~0.1 Ω、0.1~0.5 Ω、0.5~1 Ω、1~2 Ω。如申请专利范围第1项所述之电路板测试方法，其中，分别求出与不良导致之导电路径电阻值变化之最大值随其标准电阻值之变化规律与不良导致之导电路径电阻值变化之最小值随其标准电阻值之变化规律。如申请专利范围第1项所述之电路板测试方法，其中，对应于每个取样点，记录5到10个阻值变化异常导电路径。如申请专利范围第1项所述之电路板测试方法，其中，该阻值变化幅度超出预定范围指导电路径之电阻值相比标准电阻变化幅度于20%及以上。如申请专利范围第1项所述之电路板测试方法，其中，测量阻值时采用之方法为飞针四线法。如申请专利范围第1项所述之电路板测试方法，其中，测量电阻时采用两个夹板分别夹住电路板两表面，该两夹板与电路板上之测试点对应之位置上开设有通孔。如申请专利范围第1项所述之电路板测试方法，其中，分析处理确认为不良之导电路径之电阻值与标准电阻值时采用之为回归分析法。如申请专利范围第1项所述之电路板测试方法，其中，该复数待测量导电路径均匀分布于该电路板中各导电路径之标准电阻值区间内。 |
