发明名称 分析装置
摘要 本发明提供分析装置,使用了散射光的分析装置降低在气泡等异物混入了测定对象的情况下,或附着在反应容器内的情况下产生的噪声的影响,且改善S/N比特性。在与向测定对象照射的光轴垂直的平面上且以光轴为中心的圆周上配置两个以上的检测器,且观察其输出变化,确定并去除受到气泡等异物所带来的噪声的影响的检测器,且使来自检测器的输出平均化。
申请公布号 CN102741680B 申请公布日期 2015.09.23
申请号 CN201180007541.1 申请日期 2011.01.27
申请人 株式会社日立高新技术 发明人 稻边利幸;牧野彰久;足立作一郎
分类号 G01N21/49(2006.01)I 主分类号 G01N21/49(2006.01)I
代理机构 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人 张敬强;严星铁
主权项 一种分析装置,该分析装置利用检测器对因光的照射而从测定对象散射的散射光进行测定,该分析装置具有:收放测定对象体的反应容器;向上述反应容器照射光的光源部;测定在上述测定对象体散射的光的散射强度的检测器;测定上述检测器的输出的检测电路部;对来自上述检测电路部的输出进行处理的运算部;保存来自上述检测电路部的输出的记录部,其特征在于,在垂直于向上述测定对象照射的上述光的光轴的平面上且以光轴为中心的圆周上至少配置两个检测器;各检测电路部对来自各检测器的输出进行放大,在运算部每隔一定间隔转换成数字值;将成为数字值的测定结果保存至记录部中;保存数据达到一定个数以上时,根据各数据的偏差判定测定结果是否存在异物引起的噪声;在运算部检测出来自检测器的输出变化急剧变化的情况下,使来自该检测器的输出无效,从测定结果去除。
地址 日本东京都