| 发明名称 |
光资讯媒体测定方法、光资讯媒体、记录装置及再生装置 |
| 摘要 |
本发明之光资讯媒体测定方法，系测定具有复数层资讯层之多层构造之光资讯媒体之调变度，其特征在于，包含：第1步骤，以测定光学系统测定该光资讯媒体之各层之调变度；第2步骤，求出该光资讯媒体之各层间之厚度；第3步骤，求出该光资讯媒体之各层之反射率；以及第4步骤，使用在该第2步骤求出之各层间之厚度、与在该第3步骤求出之各层之反射率之值，将在该第1步骤测定之各层之调变度换算成在与该测定光学系统不同之基准光学系统之调变度。 |
| 申请公布号 |
TWI455116 |
申请公布日期 |
2014.10.01 |
| 申请号 |
TW098131035 |
申请日期 |
2009.09.15 |
| 申请人 |
松下电器产业股份有限公司 日本 |
发明人 |
佐野晃正;金马庆明;日野泰守 |
| 分类号 |
G11B20/00 |
主分类号 |
G11B20/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
桂齐恒 台北市中山区长安东路2段112号9楼;阎启泰 台北市中山区长安东路2段112号9楼 |
| 主权项 |
一种光资讯媒体测定方法，系测定具有复数层资讯层之多层构造之光资讯媒体之调变度，其特征在于，包含：第1步骤，以规格化受光部尺寸为Sd之测定光学系统测定该光资讯媒体之各层之调变度；第2步骤，求出该光资讯媒体之各层间之厚度；第3步骤，求出该光资讯媒体之各层之反射率；以及第4步骤，使用在该第2步骤求出之各层间之厚度、与在该第3步骤求出之各层之反射率之值，将在该第1步骤测定之各层之调变度换算成在该规格化受光部尺寸相异于上述之Sd而为Sdn之基准光学系统之调变度。 |
| 地址 |
日本 |
