发明名称 |
物体检测系统 |
摘要 |
[课题]提供一种物体检测系统,在构成简单、设定及调节也容易的同时,能够检测包含镜面反射体和透明体的各种检测对象物。[解决手段]将通过电磁波、磁场或者声波的检测构件得到的第一检测电平值与第二检测电平值的和、或者上述第一检测电平值及上述第二检测电平值中的任意一个作为判断电平值,在上述判断电平值大于第一阈值时、或者小于上述第一阈值且小于第二阈值时,判断为有检测对象物。此外,在上述判断电平值大于上述第二阈值且不足上述第一阈值、上述第一检测电平值与上述第二检测电平值的差大于预定的基准值时,判断为有上述检测对象物。 |
申请公布号 |
CN103109206A |
申请公布日期 |
2013.05.15 |
申请号 |
CN201180032691.8 |
申请日期 |
2011.02.02 |
申请人 |
株式会社爱霓威亚 |
发明人 |
斋藤善胤;锦户宪治 |
分类号 |
G01V1/00(2006.01)I;G01V3/12(2006.01)I;G01V8/12(2006.01)I;G01V11/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01V1/00(2006.01)I |
代理机构 |
中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 |
代理人 |
谢丽娜;关兆辉 |
主权项 |
一种物体检测系统,其特征在于,具备电磁波、磁场或者声波的产生构件、第一检测构件和第二检测构件,使上述第一检测构件和上述第二检测构件的检测轴所成的角对经检测对象物反射的上述电磁波、磁场或者声波的检测有意义,并且使其大小对经过远离用于判断有无上述检测对象物的对象区域的区域而到达上述第一检测构件或上述第二检测构件的上述电磁波、磁场或者声波的检测无影响,将上述第一检测构件的第一检测电平值与上述第二检测构件的第二检测电平值的和、或者上述第一检测电平值及上述第二检测电平值中的任意一个作为判断电平值,在上述判断电平值大于第一阈值时、或者小于上述第一阈值且小于第二阈值时,判断为有上述检测对象物,在上述判断电平值大于上述第二阈值且不足上述第一阈值、上述第一检测电平值与上述第二检测电平值的差大于预定的基准值时,判断为有上述检测对象物。 |
地址 |
日本京都 |