发明名称 SEMICONDUCTOR CONTROL DEVICE FOR A CVD OR RTP PROCESS
摘要 <p>Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Durchführung ein Halbleiterbehandlungsverfahrens, insbesondere eines CVD-Verfahrens einer Prozesskammer (17) eines Reaktors (16), mit einem ringförmigen Halter (2) für ein Substrat (1), wobei der Rand (1') des im Wesentlichen kreisscheibenförmigen Substrats (1) auf einer an die Ringöffnung (3) des Halters (2) angrenzenden Haltezone (9) liegt. Um die Vorrichtung gebrauchsvorteilhaft weiterzubilden ist vorgesehen, dass die Haltezone (9) Richtung nach radial außen ansteigend gestaltet ist und eine Vielzahl von einander beabstandete Erhebungen (4, 14) aufweist, auf denen der Rand (1') des Substrats (1) aufliegt.</p>
申请公布号 WO2007131547(A1) 申请公布日期 2007.11.22
申请号 WO2006EP62307 申请日期 2006.05.15
申请人 AIXTRON AG;BAUMANN, PETER;STRZYZEWSKI, PIOTR 发明人 BAUMANN, PETER;STRZYZEWSKI, PIOTR
分类号 H01L21/687;C23C16/455;C23C16/458;C30B25/12;C30B31/14;H01L21/00;H01L21/68 主分类号 H01L21/687
代理机构 代理人
主权项
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