发明名称 矽化金属闸极之制造方法
摘要 本发明提供一种用于积体电路之矽化金属闸极的制造方法,先形成覆盖于基材之多晶矽线路,其中多晶矽线路与基材之间设有介电层。接着形成覆盖于基材及多晶矽线路侧壁之第一绝缘层,其中第一绝缘层介于每一多晶矽线路之间,但并不覆盖在多晶矽线路的上表面。然后蚀刻一部分的多晶矽线路,使得多晶矽线路的上表面低于第一绝缘层的上表面。之后沉积覆盖于多晶矽线路上之金属层。接着进行热回火制程,以将多晶矽线路转化成矽化金属层。最后移除未反应的金属层,以形成积体电路。
申请公布号 TW200529302 申请公布日期 2005.09.01
申请号 TW093120802 申请日期 2004.07.12
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 詹博文;王志豪;许呈锵;陶宏远
分类号 H01L21/28;H01L21/02 主分类号 H01L21/28
代理机构 代理人 蔡坤财
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行六路8号