| 发明名称 | 检测电子元件阵列的方法和装置 | ||
| 摘要 | 本发明提供了一种检测电子元件阵列的装置和方法，该装置包含有一扫描装置，其用于捕获每一单个元件的至少一个表面的图象，藉以检测所述的表面。该扫描装置可以是行扫描装置。 | ||
| 申请公布号 | CN1521498A | 申请公布日期 | 2004.08.18 |
| 申请号 | CN200410001160.4 | 申请日期 | 2004.02.02 |
| 申请人 | 先进自动器材有限公司 | 发明人 | 大伟·安德史·杰森;梁永康;陈旭琼 |
| 分类号 | G01N21/84 | 主分类号 | G01N21/84 |
| 代理机构 | 北京申翔知识产权代理有限公司 | 代理人 | 周春发 |
| 主权项 | 1、一种检测电子元件阵列的装置，其包含有：扫描装置，其用于捕获每一单个元件的至少一个表面的图象，藉以检测所述的表面。 | ||
| 地址 | 香港新界葵涌工业街16－22号屈臣氏中心20楼 | ||