发明名称 METHOD OF VERIFYING DEFECT MANAGEMENT AREA INFORMATION OF DISC AND TEST APPARATUS FOR PERFORMING THE SAME
摘要
申请公布号 SG91914(A1) 申请公布日期 2002.10.15
申请号 SG20010002041 申请日期 2001.04.05
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD 发明人 JUNG-WAN KO;HYUN-KWON CHUNG
分类号 G06F3/06;G06F3/08;G11B20/10;G11B20/12;G11B20/18;G11B27/00;G11B27/34;(IPC1-7):G11B20/18;G11B19/00;G11B19/02 主分类号 G06F3/06
代理机构 代理人
主权项
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