摘要 |
LA INVENCION SE REFIERE A LA EXPLORACION Y EL ANALISIS DE LA ESTRUCTURA DE UN OBJETO (O). SEGUN LA INVENCION, EL METODO COMPRENDE LA EMISION DE AL MENOS UNA ONDA INCIDENTE EN LA MENCIONADA ESTRUCTURA; LA RECEPCION DE LAS ONDAS REFLEJADAS POR LA ESTRUCTURA MEDIANTE UNA PLURALIDAD DE ELEMENTOS DE DETECCION (D1, DN) INDEPENDIENTES; Y LA MEMORIZACION POSTERIOR A LA DIGILITALIZACION DE LOS DATOS ENTREGADOS POR LOS ELEMENTOS DE DETECCION EN UNA MEMORIA DE CAMPO (MC). POR CADA PUNTO (PIJ) DEL OBJETO (O), SE CALCULAN LAS POSICIONES EN LA MEMORIA DE CAMPO DE LAS SEÑALES DETECTADAS POR LOS ELEMENTOS (D1, DN) CORRESPONDIENTE A LAS ONDAS PROCEDENTES DEL PUNTO (PIJ); A CONTINUACION SE LEE LA MEMORIA DE CAMPO Y SE SUMA EL CONJUNTO DE LOS VALORES CONTENIDOS EN LAS POSICIONES DE MEMORIA CORRESPONDIENTES A CADA PUNTO (PIJ). EL VALOR (VP) REPRESENTATIVO DE LA MAGNITUD DE LA ONDA PROCEDENTE DEL PUNTO (PIJ) SE OBTIENE MULTIPLICANDO EL RESULTADO DE LA SUMA POR UN FACTOR DE CORRECCION (K).
|