发明名称 MEMORY DEVICES AND METHOD OF FABRICATING SAME
摘要 디바이스는, 기판 위의 제어 게이트 구조와, 상기 기판 위의 메모리 게이트 구조로서, 상기 메모리 게이트 구조는 메모리 게이트 전극 및 메모리 게이트 스페이서를 구비하며, 상기 메모리 게이트 전극은 L자형 구조인 것인, 메모리 게이트 구조와, 상기 제어 게이트 구조와 상기 메모리 게이트 구조 사이에 형성되는 전하 저장층과, 상기 메모리 게이트 구조의 측벽에 따른 제1 스페이서와, 상기 메모리 게이트 구조의 상면 위의 제2 스페이서와, 상기 기판 내에 형성되고, 상기 메모리 게이트 구조에 인접한 제1 드레인/소스 영역과, 상기 기판 내에 형성되고, 상기 제어 게이트 구조에 인접한 제2 드레인/소스 영역을 포함한다.
申请公布号 KR20160129799(A) 申请公布日期 2016.11.09
申请号 KR20160140870 申请日期 2016.10.27
申请人 TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO., LTD. 发明人 WU CHANG MING;LIU SHIH CHANG;TSAI CHIA SHIUNG
分类号 H01L29/788;H01L21/8248;H01L27/115;H01L29/792 主分类号 H01L29/788
代理机构 代理人
主权项
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