发明名称 |
一种U型FinFET与非门结构及其制造方法 |
摘要 |
一种U型FinFET与非门结构及其制造方法,包括:衬底(100);第一、第二、第三鳍片(210、220、230),所述第一、第二、第三鳍片位于衬底(100)上方,其下半部分被字线包围,分别形成第一、第二、第三沟道区;所述字线位于所述第一、第二、第三鳍片长边的两侧,彼此平行,且相邻鳍片之间的字线相互连接;所述第一、第二和第三鳍片顶部未被所述字线包围的区域具有源漏区;隔离区(240),所述隔离区(230)填充所述第一、第二、第三鳍片之间的区域,使鳍片彼此隔离。本发明提出了一种基于U型FinFET的与非门器件结构,使器件的栅长不受footprint尺寸限制,有效地解决了短沟道效应所带来的问题。 |
申请公布号 |
CN105405841A |
申请公布日期 |
2016.03.16 |
申请号 |
CN201410459146.2 |
申请日期 |
2014.09.10 |
申请人 |
中国科学院微电子研究所 |
发明人 |
刘云飞;尹海洲;李睿 |
分类号 |
H01L27/02(2006.01)I;H01L21/77(2006.01)I |
主分类号 |
H01L27/02(2006.01)I |
代理机构 |
北京汉昊知识产权代理事务所(普通合伙) 11370 |
代理人 |
朱海波 |
主权项 |
一种U型FinFET与非门器件结构,包括:衬底(100);第一、第二、第三鳍片(210、220、230),所述第一、第二、第三鳍片位于衬底(100)上方,其下半部分被字线包围,分别形成第一、第二、第三沟道区;所述字线位于所述第一、第二、第三鳍片长边的两侧,彼此平行,且相邻鳍片之间的字线相互连接;所述第一、第二和第三鳍片顶部未被所述字线包围的区域具有源漏区;隔离区(240),所述隔离区(230)填充所述第一、第二、第三鳍片之间的区域,使鳍片彼此隔离。 |
地址 |
100029 北京市朝阳区北土城西路3号 |