发明名称 Verfahren zum Ausbilden von Grenzschichten für leitende Kupferstrukturen
摘要 Ein hier angegebenes beispielhaftes Verfahren umfasst: Ausbilden eines Grabens/Durchgangs in einer Schicht aus Isolationsmaterial; Ausbilden einer Grenzschicht in wenigstens dem Graben/Durchgang; nach dem Ausbilden der Grenzschicht, Durchführen wenigstens eines Prozessschrittes, um Mangan in die Grenzschicht einzuführen und dadurch eine Mangan enthaltende Grenzschicht zu definieren; Ausbilden einer im Wesentlichen reinen, kupferbasierten Seedschicht über der Mangan enthaltenden Grenzschicht; Deponieren eines kupferbasierten Materials über der kupferbasierten Seedschicht, um den Graben/Durchgang zu überfüllen; und Entfernen von überständigen Materialien außerhalb des Grabens/Durchgangs, um dadurch eine kupferbasierte leitende Struktur zu definieren.
申请公布号 DE102014202686(A1) 申请公布日期 2014.10.02
申请号 DE201410202686 申请日期 2014.02.14
申请人 GLOBALFOUNDRIES INC. 发明人 HINTZE, BERND;KOSCHINSKY, FRANK
分类号 H01L21/768;H01L21/28 主分类号 H01L21/768
代理机构 代理人
主权项
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