发明名称 |
一种面板可靠度测试方法及装置 |
摘要 |
本发明提供一种面板可靠度测试方法及装置,在该装置中,包括:连接模块,用于连接所述面板和老化模块;可靠度测试室控制模块,用于向偏压模块发送电压调节指令和向老化模块发送开关控制指令;偏压模块,用于调节电压,并将电压调节结果发送给老化模块;老化模块,用于根据所述可靠度测试室控制模块的开关控制指令和所述偏压模块的所述电压调节结果执行所述面板的老化操作。本发明相对于现有技术,在面板未封装即可进行老化测试,节约了面板的生产时间,提高了生产效率。 |
申请公布号 |
CN102213737B |
申请公布日期 |
2013.06.05 |
申请号 |
CN201110142849.9 |
申请日期 |
2011.05.30 |
申请人 |
深圳市华星光电技术有限公司 |
发明人 |
廖学士;蔡荣茂;张小新 |
分类号 |
G01R31/00(2006.01)I;G02F1/13(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/00(2006.01)I |
代理机构 |
深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 |
代理人 |
欧阳启明 |
主权项 |
一种面板可靠度测试装置,其特征在于,所述装置包括:连接模块,用于连接所述面板和老化模块;可靠度测试室控制模块,用于向偏压模块发送电压调节指令和向老化模块发送开关控制指令;偏压模块,用于调节电压,并将电压调节结果发送给老化模块;老化模块,用于根据所述可靠度测试室控制模块的开关控制指令和所述偏压模块的所述电压调节结果执行所述面板的老化操作;所述连接模块具体包括:探头,用于与所述面板的测试垫相连接;校准模块,用于校准所述探头与所述测试垫的位置;转接模块,用于将所述老化模块的老化信号转接给所述探头;多路复用模块,用于采集所述探头的通电情况并将所述通电情况多路复用并发送给反馈模块;反馈模块,用于判断所述探头与所述测试垫的连接情况。 |
地址 |
518132 广东省深圳市光明新区塘明大道9-2号 |