发明名称 静态随机存取存储器
摘要 本发明公开了一种静态随机存取存储器(SRAM),在制作SRAM时,重新制造掩模版上的AA图形,使该掩膜版的AA图形中,接近场效应晶体管PG_1的栅极区域的拐角区域为非直角,接近场效应晶体管PG_r的栅极区域的拐角区域为非直角,非直角的拐角区域可以为曲面或楼梯形。因此,本发明防止了最终形成的SRAM性能失配。
申请公布号 CN101989456B 申请公布日期 2012.11.28
申请号 CN200910056134.4 申请日期 2009.08.07
申请人 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 发明人 黄艳;黄威森;顾一鸣
分类号 G11C11/412(2006.01)I;H01L27/11(2006.01)I 主分类号 G11C11/412(2006.01)I
代理机构 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 代理人 牛峥;王丽琴
主权项 一种静态随机存储器,包括场效应晶体管PG_1的栅极空置,漏极接入一个位线BL,源极分别接入场效应晶体管PU_1的漏极和场效应晶体管PU_r的栅极;PG_r的栅极空置,漏极接入另一个位线BLB,源极分别接入场效应晶体管PU_r的漏极和场效应晶体管PU_1的栅极;场效应晶体管PU_1的源极接Vcc,漏极和栅极分别与场效应晶体管PD_1的漏极和栅极相连;场效应晶体管PD_r的源极接入Vss,场效应晶体管PD_r的漏极与场效应晶体管PD_1的栅极相连,和场效应晶体管PD_r的栅极与场效应晶体管PD_1的漏极相连;场效应晶体管PU_r的源极接入电压Vcc,漏极和栅极分别与场效应晶体管PD_r的漏极和栅极相连;在布图时,场效应晶体管PG_1、场效应晶体管PG_r、场效应晶体管PU_1、场效应晶体管PU_r、场效应晶体管PD_1和场效应晶体管PD_r的源漏极作为有源区域,与场效应晶体管PG_1、场效应晶体管PG_r、场效应晶体管PU_1、场效应晶体管PU_r、场效应晶体管PD_1和场效应晶体管PD_r的栅极区域在图上有部分重叠,其特征在于,接近场效应晶体管PG_1的栅极区域的有源区域图形的拐角区域为非直角结构,接近场效应晶体管PG_r的栅极区域的有源区域图形的拐角区域为非直角结构;所述非直角结构为楼梯结构,所述楼梯结构为接近场效应晶体管PG_1的栅极区域的有源区域图形的拐角区域去掉一个角,接近场效应晶体管PG_r的栅极区域的有源区域图形的拐角区域去掉一个角;或者所述非直角结构为圆弧形结构,所述圆弧形状为1/4圆。
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