一种纺织品缺陷检测方法及其装置

摘要

本发明公开了一种纺织品缺陷检测方法及其装置。首先通过CCD摄像机获取纺织品生产线上的织物表面图像；应用小波变换对图像进行一层小波分解，将图像分解为互不重叠的四个子图，即，LH子图，HL子图，HH子图，LL子图；分别对LH，HL，LL子图进行自适应阈值处理进而实现织物缺陷定位；然后叠加三副子图得到最终的缺陷位置。本发明的装置包括CCD摄像机阵列、计算机服务器及其内部的纺织品缺陷检测程序模块以及连接CCD摄像机阵列和计算机服务器的数据线、连接在计算机服务器上的CCD摄像机控制线。本发明采用小波分析技术，只进行一层小波分解，计算速度快，定位准确，不需要任何纺织品缺陷的先验知识，不需要进行机器学或训练，通用性好。

主权项

1.一种纺织品缺陷检测方法，其特征是，包括以下步骤：首先通过CCD摄像机获取纺织品生产线上的织物表面图像；应用小波基函数对图像进行一层小波分解，将图像分解为互不重叠的四个子图，即，LH子图，其表示水平方向的高频信息，HL子图，其表示垂直方向的高频信息，HH子图，其表示对角线方向的高频信息，LL子图，其表示图像的近似分量；分别对LH，HL，LL子图进行自适应阈值处理进而实现织物缺陷定位；然后叠加三副子图得到最终的缺陷位置；所述对HL子图进行自适应阈值处理包括以下步骤：(1)用模板对HL子图进行卷积，以增强垂直高频细节信息的对比度，用h(j，k)表示HL子图每一点所对应的卷积结果；(2)针对HL子图的每一行，对每个系数进行归一化：$p_{\mathrm{jk}}=\frac{\left|h(j,k)\right|}{\underset{k=1}{\overset{N}{\Sigma }}\left|h(j,k)\right|};$计算此行水平变化：${\mathrm{Dir}}_j=\frac{1}{N}\underset{k=1}{\overset{N}{\Sigma }}{p_{\mathrm{jk}}}^2;$(3)每一行从左到右，计算每个点左右相邻的d个点的行水平变化为：${\mathrm{Dir}}_{j^{\prime }k}=\frac{1}{2d+1}\underset{i=k-d}{\overset{k+d}{\Sigma }}{p_{\mathrm{ji}}}^2;$其中，d取2-4之间的值；(4)针对每一行进行阈值处理：其中，σ_j为第j行系数p_jk的均方差，δ为敏感系数，取δ＝3。