发明名称 微影装置及元件之制造方法
摘要 本发明揭示一种用于一微影装置之一基板支撑件之位置控制系统,该位置控制系统包括:一位置量测系统,其经组态以判定该基板支撑件上之一感测器或感测器目标之一位置;一控制器,其经组态以基于基板之一目标部分之一所要位置及该经判定位置来提供一控制信号;及一或多个致动器,其经组态以作用于该基板支撑件。该位置控制系统包括该基板支撑件之一硬度补偿模型,该硬度补偿模型包括由于一施加于该基板支撑件上之力而造成的该目标部分之一位置改变之一差异与该感测器或感测器目标之一位置改变之间的一关系。该位置控制系统经组态以使用该硬度补偿模型而至少在一经图案化辐射光束在该目标部分上之投影期间大体上校正该目标部分之该位置。
申请公布号 TW200848957 申请公布日期 2008.12.16
申请号 TW097110410 申请日期 2008.03.24
申请人 ASML荷兰公司 发明人 艾瑞克 罗勒夫 洛卜史塔;汉李克斯 赫曼 马里 寇克斯;乔翁 乔翰尼斯 苏菲亚 马莉亚 马汀斯;威尔海莫斯 法兰西斯可思 乔翰尼斯 西蒙斯;保罗 佩托拉斯 强汉斯 柏克文斯
分类号 G03F9/00(2006.01) 主分类号 G03F9/00(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 荷兰