发明名称 | 存储器的验证流程 | ||
摘要 | 一种验证流程,于变更一存储器内所储存的数据后执行,用以验证该存储器的数据状态是否正确。此一存储器具有多个存储单元阵列与一易失性存储器。首先,读取此易失性存储器内所储存的存储单元验证数据。此存储单元验证数据用以指示这些存储单元前次验证状态为“已通过验证”或“未通过验证”。之后,根据存储单元验证数据,仅对前次未通过验证的存储单元执行一验证程序,其余已通过验证的存储单元不被执行验证程序。 | ||
申请公布号 | CN101256839A | 申请公布日期 | 2008.09.03 |
申请号 | CN200710128665.0 | 申请日期 | 2007.07.09 |
申请人 | 旺宏电子股份有限公司 | 发明人 | 廖惇雨 |
分类号 | G11C29/00(2006.01) | 主分类号 | G11C29/00(2006.01) |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 蒲迈文;黄小临 |
主权项 | 1. 一种验证流程,用以于变更一存储器系统中的一数据存储器后,验证该数据存储器的状态,其中,该数据存储器具有多个存储单元,该存储器系统还包括用以储存一存储单元验证数据的一暂存存储器,该验证方法包括:对该数据存储器进行一第一验证程序;将所述存储单元中“未通过验证”的结果记录于该暂存存储器;以及依据该“未通过验证”的结果,对所述存储单元进行一第二验证程序。 | ||
地址 | 中国台湾新竹科学工业园区 |