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Procedimiento para la medición discreta de una corriente muy débil, en el que se mide en un ciclo de medición una corriente de medición de una fuente (0) de corriente de medición, en un condensador (1) integrador conmutable, tras una duración determinada del ciclo de medición, tras una duración determinada del ciclo de medición, por medio de una tensión de salida de un amplificador operacional (3) integrador que representa la corriente de medición, y en un ciclo siguiente de reposición se realiza una integración de reposición conectado con un conmutador semiconductor (26) de reposición una corriente de reposición que fluye desde el condensador integrador (1), caracterizado porque una modificación de tensión causada por cargas perturbadoras acopladas a la salida del amplificador operacional (3) integrador, modificación que se provoca por cargas perturbadoras acopladas en el proceso de conmutación del conmutador semiconductor (26) de reposición al principio y al final del ciclo de medición, es compensada durante el ciclo de medición por medio de la adición de una señal de compensación, apropiada en posición de fase y en amplificación, a la corriente de medición de la fuente (0) de corriente de medición en la entrada del amplificador operacional (3) integrador.
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