发明名称 检测低压铁电随机存取存储器的低压检测器和方法及系统
摘要 一种低压检测器及检测非易失性存储器芯片低压的方法,低压时存储器单元不工作,并且根据电源电压的变化,通过使FeRAM单元的开始和停止的操作点与芯片启动信号同步,可以明确识别激励电压区和去激励电压区,使芯片在阈值电压范围内安全操作。按照这种方法,因为即使在电源电压的阈值电压值区,如电源电压的开/关状态时,芯片也能够安全运行,因此芯片即使在电源电压处于开/关状态下,仍然可以受到保护,而且这种芯片电路设计区域不需要附加电路就能实现高效。
申请公布号 CN1479361A 申请公布日期 2004.03.03
申请号 CN02161135.1 申请日期 2002.12.31
申请人 海力士半导体有限公司 发明人 姜熙福
分类号 H01L21/66;G11C29/00 主分类号 H01L21/66
代理机构 北京市柳沈律师事务所 代理人 王志森;黄小临
主权项 1.一种用于非易失性FeRAM芯片的低压检测器,其特征在于,在电源电压到达使FeRAM单元进行开始操作的阈值之前,不管芯片激励信号的变化如何,通过利用外部复位信号使芯片内部控制信号固定在低电平,其中,该低电平的芯片内部控制信号导致强制禁用存储器单元。
地址 韩国京畿道