| 摘要 |
<p>Ermittlung von Strukturmerkmalen an Prüfobjekten mit diffus streuender Oberfläche. Bei flächenhaft arbeitenden, optischen Verfahren zur Bauteilprüfung auf eingeschlossene Materialtrennungen (Moiré, Espi, Shearing) werden interferometrische oder mit strukturiertem Licht arbeitende Verfahren verwendet, die die Verformung des Objektes mittels Bildverarbeitung (Phasenshiftverfahren) berechnen und das Ergebnis als Phasendifferenzbild darstellen. Den strukturabhängigen lokalen Verformungen des Objektes sind dabei häufig Ganzkörperbewegungen oder sonstige nicht relevante globale Objektverformungen überlagert, die das Erkennen von lokalen Strukturmerkmalen insbesondere Strukturdefekten erschweren. Bei dem neuen Bildverarbeitungsverfahren wird das Phasendifferenzbild durch Tiefpaßfilterung so manipuliert, daß die lokalen Strukturmerkmale beseitigt sind. Dieses manipulierte Phasendifferenzbild wird vom ursprünglichen Phasendifferenzbild subtrahiert, so daß im Ergebnis ein Phasendifferenzbild entsteht, welches nur noch die lokalen Verformungen aufweist. In dem resultierenden Phasendifferenzbild ist es nun sehr viel leichter möglich Strukturmerkmale insbesondere Strukturdefekte zu erkennen, da die störende Überlagerung von globalen Verformungen beseitigt ist. Weiterhin wird der Nullwinkel auf einen mittleren Grauwert eingestellt. <IMAGE></p> |
