| 发明名称 |
METHOD FOR QUALITY EVALUATION OF SILICON WAFER, AND SILICON WAFER |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH10135295(A) |
申请公布日期 |
1998.05.22 |
| 申请号 |
JP19970235541 |
申请日期 |
1997.09.01 |
| 申请人 |
NIPPON STEEL CORP |
发明人 |
KITAHARA KOICHI;MATSUMURA ATSUKI |
| 分类号 |
G01N21/45;H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 |
主分类号 |
G01N21/45 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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