发明名称 STRIP FOR ANALYSIS APPARATURS AND SYSTEM USING THE STRIP FOR ANALYSIS
摘要 분석용 스트립 및 분석용 스트립을 이용한 장치를 제공한다. 본 분석용 스트립은 타겟 물질이 포함된 시료가 유입되는 유입부, 시료 중 제1 시료가 모세관 현상에 의해 유동하고 타겟 물질이 검출되는 타겟 스트립 및 타겟 스트립과 이격되어 있으면서 기준 물질이 함침되어 있고 시료 중 제2 시료가 모세관 현상에 의해 유동하며 기준 물질과 타겟 물질이 검출되는 보조 스트립을 포함한다.
申请公布号 KR20160140186(A) 申请公布日期 2016.12.07
申请号 KR20150076483 申请日期 2015.05.29
申请人 삼성전자주식회사 发明人 박대욱;김지학;윤진국;장문석;문보석;한지연
分类号 G01N21/78;G01N21/25;G01N33/53;G06Q50/22 主分类号 G01N21/78
代理机构 代理人
主权项
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