首页
产品
黄页
商标
征信
会员服务
注册
登录
全部
|
企业名
|
法人/股东/高管
|
品牌/产品
|
地址
|
经营范围
发明名称
Verfahren und Anordnung zum Nachweis von lichtoptisch nicht nachweisbaren Verunreinigungen und Fremdstoffen auf metallischen Oberflaechen mit Hilfe der elektronenoptischen Abbildung
摘要
申请公布号
DE662922(C)
申请公布日期
1938.07.25
申请号
DE1934A072758D
申请日期
1934.03.11
申请人
ALLGEMEINE ELEKTRICITAETS-GESELLSCHAFT
发明人
POHL JULIUS
分类号
H01J37/285
主分类号
H01J37/285
代理机构
代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
LOCATION MARKER
APPARATUS AND METHOD FOR STACKING
METALLIC FRAMING FIRE-STOP
INFORMATION RECORDING MEDIUM
READ-ONLY-MEMORY AND ITS MANUFACTURE
SEMICONDUCTOR DEVICE AND MANUFACTURE THEREOF
ULTRASONIC DIAGNOSING DEVICE
EDUCATIONAL EQUIPMENT
PRODUCTION OF GREEN SHEET
PRODUCTION OF OXIDE SUPERCONDUCTING POWDER
RECORDING MATERIAL
SUPERLATTICE STRUCTURAL ELEMENT
METHOD FOR CARRYING OUT ANTICREASE FINISH OF CELLULOSE CLOTH
MANUFACTURE OF RESIN MOLD TYPE SEMICONDUCTOR DEVICE
CASSETTE TYPE MAGNETIC TAPE DEVICE
SENSITIZED X-RAY SCREEN
IMPROVED IMAGE FORMATION METHOD
LASER BEAM SCANNING DEVICE
DATA PROCESSOR
POLYESTER SHRINK FILM