一种测量奥氏体晶粒尺寸的方法

摘要

本发明公开了一种奥氏体晶粒尺寸的测量方法，该方法通过将钢铁样品进行奥氏体化加热，迅速冷却，并按照电子探针的要求进行制样，采用电子探针对某一元素进行线分析，通过测量工作长度内谱线波峰数和波峰之间距离的方法来快速测量样品的奥氏体晶粒尺寸。此种分析方法简单易行，不受钢样尺寸外形影响，无需腐蚀剂，从而可达到节约能源、减少环境污染的效果，并且能够提供更为直观和准确的检测结果，完全可以满足奥氏体晶粒尺寸测量要求。

主权项

一种奥氏体晶粒尺寸的测量方法，其特征在于：包含以下步骤：(1)制样：将钢铁样品经860‑1300℃加热进行奥氏体化，随后迅速取出淬火，按照电子探针检测对样品的要求进行制样，可以不进行腐蚀；(2)装样：将制备好的样品按电子探针的装样要求进行装样，设置加速电压、电子束束流；(3)测试：对需要检测的区域进行线分析测试，得到样品表面某一距离内元素分布的定量化谱图；(4)分析：根据得到的线分布定量化谱图上波峰数量，即可得到该距离内奥氏体晶界的数量，通过测量和计算波峰之间的距离，从而得到奥氏体晶粒尺寸，D(晶粒尺寸)＝L(测量距离)/n(波峰数)。