发明名称 Verfahren zur Messung elektromagnetischer Strahlung in Instrumenten der Luft- und Raumfahrt
摘要 Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Messung elektromagnetischer Strahlung in Instrumenten der Luft- und Raumfahrt, insbesondere zur Beobachtung der Erde oder anderer Himmelskörper. Die Aufgabe, eine neue Möglichkeit zur Messung elektromagnetischer Strahlung zu finden, die sowohl die Erfassung hoher zu erwartender Signalpegel ohne Sättigung als auch niedriger Signalpegel mit ausreichend hohem Signal-zu-Rausch-Verhältnis (SNR) gestattet, ohne Verstärkungsumschaltungen zu erfordern, wird erfindungsgemäß gelöst, indem Parameter der Signalverarbeitungsketten (1) der Detektoren (11) gezielt so eingestellt werden, dass mindestens ein Detektor (11a) für einen Dynamikbereich (25) des maximal zu erwartenden Signalpegels (S<SUB>MAX</SUB>) der elektromagnetischen Strahlung (2) und mindestens ein weiterer Detektor (11b) auf einen eingeschränkten Dynamikbereich (26) für kleine und mittlere Signalpegel eingerichtet sind, um ein höheres Signal-zu-Rausch-Verhältnis (SNR) zu erhalten.
申请公布号 DE102006057726(A1) 申请公布日期 2008.06.05
申请号 DE200610057726 申请日期 2006.12.02
申请人 JENA-OPTRONIK GMBH 发明人 FRITSCH, HOLGER;VOS, BURKART
分类号 G01J1/42;B64G1/36;H04N5/30 主分类号 G01J1/42
代理机构 代理人
主权项
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