| 主权项 |
1.一种供光学资讯记录介体记录/再生之光学拾波 装置,包含: 一光源; 一耦合光学系统,用以改变从该光源发射之光通量 偏角; 一物镜光学系统,在该光通量通过位于光学资讯记 录介体之一资讯记录表面上之耦合光学系统之后 聚合该光通量;及 一光电探测器,用以侦测来自光学资讯记录介体之 一资讯记录表面之反射光; 其中,该物镜光学系统至少包含一由树脂制成之透 镜及具有一正折射功率,该耦合光学系统至少包含 一由树脂制成之透镜及具有一正折射功率,并且, 该耦合光学系统进一步包含一具负衍射功率之环 带状衍射表面。2.如专利申请范围第1项所述之光 学拾波装置,其中,环带状衍射表面被提供在树脂 制之透镜的表面之一上,并在耦合光学系统中具有 正折射功率。3.如专利申请范围第1项所述之光学 拾波装置,其中,树脂制且在耦合光学系统中具有 正折射功率之透镜为一耦合透镜,且该耦合光学系 统包含该耦合透镜。4.如专利申请范围第1项所述 之光学拾波装置,其中,耦合光学系统为一对准光 学系统,以使从光源发射之光通量对光轴成为平行 光通量。5.如专利申请范围第1项所述之光学拾波 装置,其中,树脂制且在物镜光学系统中具有正折 射功率之透镜为一物镜,且该物镜光学系统包含该 物镜。6.如专利申请范围第4项所述之光学拾波装 置,其中,该对准光学系统包含一对准透镜,且该光 学拾波装置调整该对准透镜或光源至光轴,以使从 光源发射之光通量对光轴成为平行光通量。7.如 专利申请范围第1项所述之光学拾波装置,其中,该 光学拾波装置包含作为一第一光源之光源及进一 步包含一第二光源。8.如专利申请范围第7项所述 之光学拾波装置,其中,该第一光源发射具有波长 为1之光通量,而该第二光源发射具有波长比1 长之2之光通量。9.如专利申请范围第7项所述之 光学拾波装置,其中,该第一光源发射之光通量用 来供一第一光学资讯记录介体之记录/再生资讯使 用,而该第二光源发射之光通量用来供一第二光学 资讯记录介体之记录/再生资讯使用,其中,第二光 学资讯记录介体所需之物镜孔隙数比第一光学资 讯记录介体所需之物镜孔隙数小。10.如专利申请 范围第7项所述之光学拾波装置,其中,光学拾波装 置包含照片侦测器作为一第一照片侦测器以侦测 当从第一光源发射之光通量反射在第一光学资讯 记录介体之一资讯记录表面上时之反射光通量,及 进一步包含一第二照片侦测器以侦测当从第二光 源发射之光通量反射在第二光学资讯记录介体之 一资讯记录表面上时之反射光通量。11.如专利申 请范围第7项所述之光学拾波装置,其中,光学拾波 装置包含耦合光学系统作为一第一耦合光学系统 以改变从第一光源发射之光通量偏角,及进一步包 含一第二耦合光学系统以改变从第二光源发射之 光通量偏角,并且,一光学合成装置系使通过第一 耦合光学系统与第二耦合光学系统之光通量继续 进行在一实质相同的方向上。12.如专利申请范围 第7项所述之光学拾波装置,进一步包含一光学合 成装置系使通过第一耦合光学系统与第二耦合光 学系统之光通量行进在一实质相同的方向上,并且 ,耦合光学系统改变通过该光学合成装置之光通量 偏角。13.如专利申请范围第7项所述之光学拾波装 置,进一步包含一孔隙限制装置以允许从第一光源 发射之光通量通过,而不允许偏离行进在从第二光 源发射之光通量间之光轴一预定区域之部份光通 量通过。14.如专利申请范围第13项所述之光学拾 波装置,其中,该孔隙限制装置为一环梯形过滤器 以允许从第一光源发射之光通量通过,并反射或吸 收偏离行进在从第二光源发射之光通量间之光轴 一预定区域之部份光通量。15.如专利申请范围第 13项所述之光学拾波装置,其中,该孔隙限制装置为 一环梯形过滤器以允许从第一光源发射之光通量 通过,并衍射偏离行进在从第二光源发射之光通量 间之光轴一预定区域之部份光通量。16.如专利申 请范围第10项所述之光学拾波装置,其中,该第一光 源及第一照片侦测器或第二光源及第二照片侦测 器系在一单一单元中制造。17.一种供光学资讯记 录介体使用之引导记录/再生之光学资讯记录介体 记录及/或再生装置,包含: 一光源; 一耦合光学系统,用以改变从该光源发射之光通量 偏角; 一物镜光学系统,于光学资讯记录介体之一资讯记 录表面上用来聚合已通过该耦合光学系统的光通 量;及 一照片侦测器,用以侦测来自光学资讯记录介体之 一资讯记录表面之反射光; 其中,该物镜光学系统至少包含一树脂制之透镜及 具有一正折射功率,该耦合光学系统至少包含一树 脂制之透镜及具有一正折射功率,并且,该耦合光 学系统进一步包含一具负衍射功率之环带状衍射 表面。18.一种用来作为供光学资讯记录介体使用 之引导记录/再生用之光学拾波装置的聚合光学系 统,包含: 一耦合光学系统,用以改变从该光源发射之光通量 偏角; 一物镜光学系统,于光学资讯记录介体之一资讯记 录表面上用来聚合已通过该耦合光学系统的光通 量;及 一照片侦测器,用以侦测来自光学资讯记录介体之 一资讯记录表面之反射光; 其中,该物镜光学系统至少包含一树脂制之透镜及 具有一正折射功率,该耦合光学系统至少包含一树 脂制之透镜及具有一正折射功率,并且,该耦合光 学系统进一步包含一具负衍射功率之环带状衍射 表面。19.一种耦合透镜,包含: 一树脂制且具有一正折射功率之透镜;及 一在透镜至少一表面上具有负衍射功率之环带状 衍射部。20.如专利申请范围第19项所述之耦合透 镜,其满足下列公式, 0.12<dr/f<1.2 其中,dr为环带状衍射部的直径,而f为透镜的焦距 。21.如专利申请范围第19项所述之耦合透镜,其中, 该耦合透镜为一对准透镜。图式简单说明: 第一图为显示在本发明中一光学拾波装置之一实 施例结构的光学路径图。 第二图为显示在本发明中一光学拾波装置之另一 实施例结构的光学路径图。 第三图为显示在本发明中一光学拾波装置之一光 学系统之温度特性图。 第四图为显示供本发明中一光学拾波装置用之一 光学系统结构的一例之光学路径图。 第五图为显示供本发明中一光学拾波装置用之一 光学系统结构的另一例之光学路径图。 第六图为显示其中一具有带状衍射表面之元件系 被安置在供本发明中一光学拾波装置用之一耦合 光学系统中之一例之光学系统局部概念图。 第七图为显示其中一带状衍射表面系被安置在供 本发明中一光学拾波装置用之一耦合光学系统中 之光束分离器的倾斜表面上之一例之光学系统局 部概念图。 |
