发明名称 修整装置
摘要 本创作修整装置系主要应用于化学机械研磨装置(Chemical Mechanical Polishing, CMP)之研磨垫的整理。本创作修整装置利用固定位置与角度之进、排气口将气体朝向于研磨垫进行喷刷,并且采用不等间隔、相同旋向之具有钻石颗粒的复数修整片进行研磨垫上的修整。在研磨垫的修整过程中,藉由气体向外冲刷,以及修整片的形状,使得修整片与研磨剂所产生的反应物即时地被排除于研磨垫之外的收集装置之中,以维持研磨垫的乾净及提高制程的稳定性。
申请公布号 TW383644 申请公布日期 2000.03.01
申请号 TW088204407 申请日期 1999.03.23
申请人 世界先进积体电路股份有限公司 发明人 许为杰
分类号 B24B37/04;B24B7/24 主分类号 B24B37/04
代理机构 代理人 洪澄文 台北巿信义路四段二七九号三楼
主权项 1.一种修整装置,适用于配合气体进行研磨垫之修 整 装置,该修整装置包括: 一本体,具有一进气口与一排气口,该排气口朝向 于 该研磨垫,该气体经由该进气口输入、经由该排气 口输出 而喷注于该研磨垫之上; 一承载盘,以绕着一第一轴心旋转的方式设置于该 本 体上,该承载盘具有一基面,该基面系朝向于该研 磨垫; 以及 复数修整片,以该第一轴心为中心且成放射状的方 式 分别设置于该基面上,各该等修整片具有一研磨面 ,该等 研磨面系均朝向于该研磨垫。2.如申请专利范围 第1项所述的修整装置系应用于修 整化学机械研磨装置之研磨垫的修整。3.如申请 专利范围第1项所述的修整装置,其中,该 研磨垫系绕着一第二轴心回转,并且该修整装置系 设置于 该第二轴心之一侧,使得该研磨垫系依照回转方向 进入且 通过该本体之该排气口。4.如申请专利范围第3项 所述的修整装置,其中,该 排气口系为曲状排气口。5.如申请专利范围第4项 所述的修整装置,其中,该 排气口系以该第一轴心为中心之曲状排气口。6. 如申请专利范围第5项所述的修整装置,其中,该 排气口之设置范围系以该第一轴心为中心而成角 度为0 ~180之曲状排气口。7.如申请专利范围第6项所述 的修整装置,其中,该 排气口之设置范围系0~120为最佳値。8.如申请专 利范围第1或7项所述的修整装置,其中, 该等修整片系为曲状之修整片。9.如申请专利范 围第8项所述的修整装置,其中,该 等修整片之该研磨面上嵌入有复数钻石颗粒。10. 如申请专利范围第9项所述的修整装置,其中,该 等修整片之间系以不等间隔方式排列。11.一种修 整装置,适用于研磨垫之修整,该修整装 置包括: 一本体,具有一进气口与一排气口,该排气口朝向 于 该研磨垫; 一气体源,连接于该进气口,该气体源将气体经由 该 进气口输入、经由该排气口输出喷注于该研磨垫 之上; 一承载盘,公绕着一第一轴心旋转的方式设置于该 本 体上,该承载盘具有一基面,该基面系朝向于该研 磨垫; 及 复数修整片,以该第一轴心为中心且成放射状的方 式 分别设置于该基面上,各该等修整片具有一研磨面 ,该等 研磨面系均朝向于该研磨垫。12.如申请专利范围 第11项所述的修整装置系应用于 修整化学机械研磨装置之研磨垫的修整。13.如申 请专利范围第12项所述的修整装置,其中, 该研磨垫系绕着一第二轴心回转,并且该修整装置 系设置 于该第二轴心之一侧,使得该研磨垫系依照回转方 向进入 且通过该本体之该排气口。14.如申请专利范围第 13项所述的修整装置,其中, 该排气口系为曲状排气口。15.如申请专利范围第 14项所述的修整装置,其中, 该排气口系以该第一轴心为中心之曲状排气口。 16.如申请专利范围第15项所述的修整装置,其中, 该排气口之设置范围系以该第一轴心为中心而成 角度为0 ~180之曲状排气口。17.如申请专利范围第16项所 述的修整装置,其中, 该排气口之设置范围系0~120为最佳値。18.如申请 专利范围第11或17项所述的修整装置,其 中,该等修整片系为曲状之修整片。19.如申请专利 范围第18项所述的修整装置,其中, 该等修整片之该研磨面上嵌入有复数钻石颗粒。 20.如申请专利范围第19项所述的修整装置,其中, 该等修整片之间系以不等间隔方式排列。
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