发明名称 |
Verfahren zur Herstellung epitaktischer Silizium-Germaniumschichten |
摘要 |
Die Erfindung beschreibt ein Verfahren zur Herstellung von relaxierten Epitaxieschichten auf einem Halbleitersubstrat mittels Molekularstrahlepitaxie mit einer Wasserstoffquelle, indem in einer in situ Prozeßfolge DOLLAR A - an oder nahe der Substratoberfläche eine wasserstoffhaltige Zwischenschicht deponiert oder eingebracht wird, DOLLAR A - darauf eine verspannte Epitaxieschicht aufgewachsen wird und DOLLAR A - die Epitaxieschicht mittels einer Temperaturbehandlung relaxiert wird.
|
申请公布号 |
DE19859429(A1) |
申请公布日期 |
2000.06.29 |
申请号 |
DE19981059429 |
申请日期 |
1998.12.22 |
申请人 |
DAIMLERCHRYSLER AG |
发明人 |
KIBBEL, HORST;KUCHENBECKER, JESSICA |
分类号 |
C30B23/02;H01L21/20;(IPC1-7):H01L21/203;H01L29/161 |
主分类号 |
C30B23/02 |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
|
地址 |
|