| 发明名称 | γ射线检测系统以及正电子发射断层摄影系统 | ||
| 摘要 | 本发明涉及γ射线检测系统以及正电子发射断层摄影系统，其中，γ射线检测系统具备多个具有相同长度的检测器模块(204)，各个检测器模块检测从正电子消失现象中产生的γ射线。多个检测器模块(204)的第1检测器模块从与第1检测器模块邻接的第2检测器模块向轴方向错开比检测器模块(204)的长度都短的规定间隔地安装。能够无需改变整体灵敏度，同时简易地扩大有效视野。 | ||
| 申请公布号 | CN102540239A | 申请公布日期 | 2012.07.04 |
| 申请号 | CN201110338812.3 | 申请日期 | 2011.10.28 |
| 申请人 | 株式会社东芝;东芝医疗系统株式会社 | 发明人 | 丹尼尔·加格农;王文莉 |
| 分类号 | G01T1/29(2006.01)I;A61B6/03(2006.01)I | 主分类号 | G01T1/29(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人 | 李伟;王轶 |
| 主权项 | 一种γ射线检测系统，具备多个具有相同长度的检测器模块，各检测器模块检测从正电子消失现象中产生的γ射线，该γ射线检测系统的特征在于：上述多个检测器模块的第1检测器模块被安装成：在轴方向与上述多个检测器模块中和上述第1检测器模块相邻接的第2检测器模块错开比上述检测器模块的长度短的规定间隔。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||