| 发明名称 | 一种基于带电粒子辐照产生级联及点缺陷的方法 | ||
| 摘要 | 一种基于带电粒子辐照产生级联及点缺陷的方法，涉及空间环境效应领域，为了满足对位移损伤效应的研究需求。该方法为：选取带电粒子；计算带电粒子所产生的单位时间位移损伤吸收剂量D；根据<img file="DDA0001134050620000011.GIF" wi="322" he="63" />计算D'(E)，D'(E)为一个能量为E的带电粒子所产生的位移损伤吸收剂量，<img file="DDA0001134050620000012.GIF" wi="37" he="45" />为注量率；选取D'(E)大于位移缺陷产生阈值的有效带电粒子；在有效带电粒子中选取D小于点缺陷阈值的带电粒子作为辐照源，用于产生点缺陷；在有效带电粒子中选取D大于级联缺陷阈值的带电粒子作为辐照源，用于产生点缺陷和级联缺陷。本发明适用于产生级联及点缺陷。 | ||
| 申请公布号 | CN106483061A | 申请公布日期 | 2017.03.08 |
| 申请号 | CN201610911410.0 | 申请日期 | 2016.10.19 |
| 申请人 | 哈尔滨工业大学 | 发明人 | 李兴冀;杨剑群;刘超铭;马国亮 |
| 分类号 | G01N17/00(2006.01)I | 主分类号 | G01N17/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人 | 岳泉清 |
| 主权项 | 一种基于带电粒子辐照产生级联及点缺陷的方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：选取带电粒子；计算带电粒子所产生的单位时间位移损伤吸收剂量D；根据<img file="FDA0001134050590000011.GIF" wi="323" he="62" />计算D'(E)，D'(E)为一个能量为E的带电粒子所产生的位移损伤吸收剂量，<img file="FDA0001134050590000012.GIF" wi="36" he="45" />为注量率；选取D'(E)大于位移缺陷产生阈值的有效带电粒子；在有效带电粒子中选取D小于点缺陷阈值的带电粒子作为辐照源，用于产生点缺陷；在有效带电粒子中选取D大于级联缺陷阈值的带电粒子作为辐照源，用于产生点缺陷和级联缺陷。 | ||
| 地址 | 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号 | ||