| 发明名称 |
DELAY FAULT TEST CIRCUITRY AND RELATED METHOD |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP1421397(A1) |
申请公布日期 |
2004.05.26 |
| 申请号 |
EP20020751574 |
申请日期 |
2002.08.06 |
| 申请人 |
KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. |
发明人 |
PRICE, DAVID, P. |
| 分类号 |
G01R31/28;G01R31/3183;G01R31/3185;H01L21/822;H01L27/04;(IPC1-7):G01R31/318;G01R31/318;G06F11/26 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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