发明名称 |
显示装置之光学层件之缺陷检测方法;DEFECT INSPECTION METHOD OF OPTICAL LAYER PART OF DISPLAY DEVICE |
摘要 |
本发明提供一种显示装置之光学层件之缺陷检测方法,包括下列步骤:以一预定扫描角度之扫描光束对应扫描于显示装置之一选定光学层件,选定光学层件选自一偏光层、一滤光层、一配向层、一液晶层、一薄膜电晶体基板层、一扩散层、一导光层或其结合;撷取扫描选定光学层件所产生的一光纹影像;依据光纹影像相对于选定光学层件之位置关而产生一检测结果资讯;以及依据检测结果资讯而检知选定光学层件对应部位之缺陷情况。 |
申请公布号 |
TW201425910 |
申请公布日期 |
2014.07.01 |
申请号 |
TW101147903 |
申请日期 |
2012.12.17 |
申请人 |
台湾动力检测科技股份有限公司 |
发明人 |
林裕强 |
分类号 |
G01N21/88(2006.01);G09G3/00(2006.01) |
主分类号 |
G01N21/88(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
林志青 |
主权项 |
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地址 |
TAIWAN POWER TESTING TECHNOLOGY CO., LTD 新北市树林区八德街724号 |