发明名称 METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要
申请公布号 JPH02212784(A) 申请公布日期 1990.08.23
申请号 JP19890033134 申请日期 1989.02.13
申请人 SEIKO EPSON CORP 发明人 HASHIMOTO NOBUAKI
分类号 G01R31/26;H01L21/66 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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